18世紀法國科學家菲涅耳(Fresnel)用雙棱鏡將一束相干光的波前分成兩部分形成分波面干涉，利用測量干涉條紋間距(毫米量級)，求得光的波長(納米量級)。目前很多物理實驗教科書都將該方法帶入課堂，測量激光之波長。本雙梭鏡光干涉實驗儀具有這方面的功能。
本儀器有以下優(yōu)點
☆配有半導體激光(650.0nm)單色光源，半導體激光經偏振片處理可以將光強降低到適當的強度，有既具相干性又不傷害眼睛的優(yōu)點，可很方便調出圖像清晰干涉條紋。
☆導軟和轉盤采用高強度優(yōu)質鋁合余材料、不會生銹、經久耐用。
本儀器可完成以下實驗
☆觀察雙棱鏡的干涉現象
☆測量激光器的波長。
☆也可以換其他光源進行雙棱鏡干涉實驗。
儀器主要配置
☆導軌（長100.0cm，分度值1mm，可為用戶特制尺寸）、配有左右橫向平移支架（最大移程40mm）、測微目鏡（或高清CCD）
☆FB760/F型采用高清CCD攝像液晶屏顯示替代傳統的測微目鏡。